Determination of lattice parameters in the epitaxial AlSbGaSb system by high resolution X-ray diffraction , Journal of Crystal Growth on ScienceDirect www.sciencedirect.com تعیین پارامترهای شبکه در همبافته سیستم AlSbGaSb توسط پراش با وضوح بالا اشعه ایکس

562 K

2

03/12/2014

Lattice constant determination by grazing incidence diffraction in thin cubic films under thermal strain , Thin Solid Films on ScienceDirect www.sciencedirect.com شبکه تعیین ثابت های چرا پراش بروز در فیلم مکعب نازک تحت فشار حرارتی

493 K

3

03/12/2014

Fiber dependence and coupling efficiency limitation for a lensed fiber integrated with a long period fiber grating , Optical Fiber Communication Conference and Exhibit, 2001. OFC 2001 ieeexplore.ieee.org وابستگی فیبر و محدودیت بازده کلاچ برای یک فیبر lensed یکپارچه شده با الیاف دوره طولانی توری

198 K

3

30/11/2014

Monitoring optical fiber sensor networks by optical frequency-domain reflectometry , Photonics Global Conference (PGC), 2012 ieeexplore.ieee.org اختصاصی شبکه های حسگر فیبر نوری توسط فرکانس دامنه نوری بازتاب

551 K

38

30/11/2014

A new design method for external cavity structure of tunable semiconductor laser , Multimedia Technology (ICMT), 2011 International Conference on ieeexplore.ieee.org روش طراحی جدید برای ساختار حفره های خارجی از لیزر نیمه هادی موزون

296 K

15

30/11/2014

Tunable semiconductor lasers: a tutorial , Lightwave Technology, Journal of ieeexplore.ieee.org لیزر نیمه هادی موزون: آموزش

769 K

23

30/11/2014

An efficient method of implementing near-field diffraction in computer-generated hologram design , Optics Communications on ScienceDirect www.sciencedirect.com روش کارآمد از اجرای پراش در نزدیکی میدان در طراحی هولوگرام کامپیوتر تولید

866 K

13

28/11/2014

Determination of nanoparticle sizes by X-ray diffraction G. A. Dorofeev , A. N. Streletskii Colloid Journal link.springer.com تعیین اندازه نانوذرات توسط پراش اشعه X-

526 K

20

23/11/2014

An analytical model for the determination of crystallite size and crystal lattice microstrain distributions in nanocrystalline materials from the variance of the X-ray diffraction peaks F. Sánchez-Bajo , A. L. Ortiz Applied Physics A link.springer.com یک مدل تحلیلی برای تعیین اندازه دانه و شبکه کریستالی توزیع microstrain در مواد نانو از واریانس قله پراش اشعه X-

270 K

15

23/11/2014

Evaluation of microstructural changes by X-ray diffraction peak profile and focused ion beam/scanning ion microscope analysis D. Umbrello , G. Rotella The International Journal of Advanced Manufacturing Technology link.springer.com بررسی تغییرات میکرو ساختاری توسط اشعه X اوج پراش مشخصات و متمرکز یون تجزیه و تحلیل پرتو / اسکن میکروسکوپ یون

2460 K

23

23/11/2014